產(chǎn)品介紹：

FLH3000膜厚測(cè)試儀是利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測(cè)量的高精度儀器，其測(cè)量厚度范圍從nm-um，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚精確測(cè)量，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微電子、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。

推薦應(yīng)用領(lǐng)域：

光伏膜厚分析；半導(dǎo)體薄膜（光刻膠、工藝薄膜、介電材料）；液晶顯示（OLED、玻璃厚度、ITO）；光學(xué)鍍膜（硬涂層厚度、減反涂層）；高分子薄膜（PI、PC）；金屬材料膜厚

產(chǎn)品特點(diǎn)：

高精度；非接觸式測(cè)量；廣泛的材料兼容性；快速測(cè)量；操作簡便；高適應(yīng)性

技術(shù)規(guī)格：